Uma causa importante de falha em circuitos eletrônicos
integrados é a eletromigração, fenômeno no qual altas
densidades de corrente produzem a remoção de cristais
metálicos do condutor pela transferência de quantidade
de movimento dos elétrons. Essa remoção causa o
estreitamento do condutor e o aumento da densidade de
corrente, fechando um ciclo vicioso que leva ao rompimento
do condutor.