Questão 699636 - Eletrônica digital
Concurso: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC (CEITEC) 2012
Cargo: Analista Administrativo - Área Engenharia Elétrica (ETEA - PRTEVA)
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Nível: Superior
Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica Eletrônica Eletrônica digital
No contexto de geração de vetores de teste para um dado sistema afirma-se o que segue.
I. A geração dos vetores de teste é independente do tipo falha, basta conhecer a função lógica que relaciona as entradas e
saídas primárias do sistema.
II. Considerando um sistema digital combinacional, se todos os vetores de testes que detectam uma falha F1 também
detectam a F2, pois ambas possuem a mesma função lógica de falha. Diz-se então que elas são falhas equivalentes.
III. Um circuito lógico implementa sua função lógica de forma correta sob o ponto de vista estático. Mas, em algum ponto
do mesmo, pode ocorrer atraso excessivo de propagação do sinal ou lentidão na transição. A captura deste tipo de falha
somente pode ser feita através de um teste at speed observando diretamente o sinal em questão em um osciloscópio.
- A. Apenas I e II são verdadeiras.
- B. Apenas II e III são verdadeiras.
- C. Apenas I e III são verdadeiras.
- D. Apenas a II é verdadeira.
- E. Apenas a III é verdadeira.