No que se refere ao microscópio eletrônico de varredura (MEV),
assinale a opção correta.
A
A espessura de uma amostra de osso a ser analisada pelo MEV
não pode ser superior a 100 nm.
B
Como encontram-se dentro do espectro visível, os sinais
gerados por fótons no MEV são adquiridos sem o emprego de
um detector apropriado.
C
Os elétrons secundários (ES) são uma interferência comum na
geração de imagens, motivo pelo qual o detector deve ser
calibrado para suprimir os sinais originados pelos ES.
D
O aspecto tridimensional observado nas imagens obtidas no
MEV é resultado da captação do feixe de elétrons em dois
ângulos distintos, o que gera um efeito conhecido como
estereoscopia.
E
Em um MEV, a resolução está relacionada à dimensão da
sonda de varredura.