Dentro das possíveis arquiteturas para DFT afirma-se o que segue.
I. Para possibilitar o autoteste integrado (‘built-in self test’) em um sistema, é necessária a presença de um bloco de geração
automática de vetores de testes e compactação do resultado de teste com o respectivo mecanismo de analise de assinatura
de falha.
II. O emprego de técnicas de boundary scan (JTAG) só é possível em sistemas cuja a técnica de testabilidade é o full scan
(escaneamento completo).
III. Em mecanismos de compactação da resposta baseados em Multiple-Input Signature Register (MISR), emprega-se uma
topologia baseada em Linear-Feedback-Shift-Register (LSFR) que possibilita a detecção de falhas e o diagnóstico
preciso das falhas existentes bem como a reconstrução dos vetores aplicados.
Podemos dizer que: