Questão 623528 - Eletrônica Analógica
Concurso: Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) 2004
Cargo: Tecnologista Pleno 3 - Área Engenharia (Código B2)
Banca: Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE/CEBRASPE)
Nível: Superior
Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica Eletrônica Eletrônica Analógica
A complexidade dos circuitos com alta escala de integração implica desafios para o desenvolvimento de procedimentos de caracterização, associados à dificuldade de acesso dos dispositivos e à malha de interconexões entre eles. A evolução das tecnologias, com a conseqüente redução das dimensões de dispositivos e o aumento da densidade dos circuitos integrados desenvolvidos, tem demandado cada vez mais o desenvolvimento de procedimentos de caracterização não-destrutivos e não-invasivos. No que se refere a esse tema, julgue os itens seguintes.
A microscopia eletrônica de varredura por tunelamento (STM) é um procedimento não-destrutivo de análise de superfícies, cujas características de resolução espacial e sensibilidade são particularmente adequadas às tecnologias VLSI e às nanotecnologias.
- C. Certo
- E. Errado