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Q699652
Teclas de Atalhos
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No contexto da implementação física de um circuito integrado afirma-se o que segue.
I. O efeito de eletromigração (EM) é decorrente da alta densidade de corrente e alternância de temperatura nas linhas de
interconexão sendo uma das causas de ruptura ou falha mecânica das mesmas.
II. O emprego de bibliotecas de células com múltiplos Vt (tensões de limiar dos transistores) objetiva a redução da corrente
de fuga (leakage) em geometrias com canal mais curto.
III. Efeitos de interferência entre trilhas de roteamento têm impacto no incremento do atraso na linha afetado degradando a
integridade do sinal.
A
Apenas I é verdadeira.
B
Apenas II é verdadeira.
C
Apenas I e II verdadeiras.
D
Apenas I e III verdadeira.
E
I, II e III são verdadeiras.