Questão Q699656 - Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica

Question

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é: Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao
processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:

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A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.

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O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.

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A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.

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O emprego do menor número de transições nos bits da memória.

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Nenhuma das descritas anteriormente.

Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em...