Questão 699656 - Eletrônica digital
Concurso: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A. - CEITEC (CEITEC) 2012
Cargo: Analista Administrativo - Área Engenharia Elétrica (ETEA - PRTEVA)
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência (FUNRIO)
Nível: Superior
Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica Eletrônica Eletrônica digital
Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST built-in self test deve-se ter especial atenção ao
processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:
- A. O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.
- B. A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.
- C. A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.
- D. O emprego do menor número de transições nos bits da memória.
- E. Nenhuma das descritas anteriormente.