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Q699656
Teclas de Atalhos
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Em aplicações onde são usadas técnicas de DFT baseadas em BIST – built-in self test deve-se ter especial atenção ao
processo de aplicação do teste em si. No caso de memórias, uma das técnicas aplicadas para o auto-teste em baixa potência é:
A
O espaçamento entre os ciclos de leitura e escrita.
B
A aplicação do teste no tempo em que a memória não está sendo acessada.
C
A modificação dos testes convencionais de memória reordenando o endereçamento para evitar ao máximo as transições
nas linhas de endereço sem perder a cobertura de falhas.
D
O emprego do menor número de transições nos bits da memória.
E
Nenhuma das descritas anteriormente.