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Executando-se a espectroscopia de massa do íon secundário (SIMS) de uma estrutura impla...

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Q700457
Teclas de Atalhos
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Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência - FUNRIO
Prova: FUNRIO - CEITEC - Analista Operacional - Área Engenharia Elétrica - 2012
Executando-se a espectroscopia de massa do íon secundário (SIMS) de uma estrutura implantada, consegue-se obter
A
o perfil de implantação na lâmina.
B
a oxidação da lâmina.
C
a deposição de um filme fino sobre a lâmina.
D
a limpeza da lâmina.
E
os defeitos na lâmina.