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Q700477
Teclas de Atalhos
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Abaixo estão citadas diferentes técnicas de análise de materiais. Assinale a técnica que não pode ser utilizada para
levantamento do perfil de dopagem em semicondutores.
A
Elipsometria espectral.
B
Espectrometria de massa por íons secundários.
C
Levantamento do perfil capacitância-voltagem.
D
Resistência ao espalhamento.
E
Fotoluminescência.