Nas questo˜es com respostas numeˊricas, considere o moˊdulo da aceleraça˜o da gravidade como g=10,0 m/s2, densidade da aˊgua =1,0 g/cm3, o moˊdulo da carga do eleˊtron =1,6×10−19 C, massa do proˊton =1,7×10−27 kg, massa do neˆutron =1,7×10−27 kg =1,009 u, massa do eleˊtron =9,1×10−31 kg, π=3,14, constante de Planck h=6,6×10−34 Js ou 4,14×10−15 eVs, energia de Rydberg =13,6 eV, constante de Boltzmann kB=1,4×10−23 m2kgs−2K−1=8.6×10−5 eVK−1, constante eletrostaˊtica =9×109 kg m3s−2C−2, velocidade da luz no vaˊcuo c=3×108 m/s, constante da gravitaça˜o universal G=6,67×10−11 Nm2/kg2, 1 u=931,5 MeV, energia de repouso do proˊton =938.3 MeV, energia de repouso do neˆutron =939,6 MeV, energia de repouso do eleˊtron =0,52 MeV, massa do deuteˊrio =2,014u, massa do heˊlio-3 =3,016u, massa 40K=39,9640u, massa de 40Ar=39,9624u, constante de Stefan-Boltzmann σ=5,67×10−8 Wm−2K−4, raio de Bohr para o hidrogeˆnio =0,5×10−10 m. Nas questo˜es com respostas numeˊricas, considere o moˊdulo da aceleraça˜o da gravidade como g=10,0 m/s2, densidade da aˊgua =1,0 g/cm3, o moˊdulo da carga do eleˊtron =1,6×10−19 C, massa do proˊton =1,7×10−27 kg, massa do neˆutron =1,7×10−27 kg =1,009 u, massa do eleˊtron =9,1×10−31 kg, π=3,14, constante de Planck h=6,6×10−34 Js ou 4,14×10−15 eVs, energia de Rydberg =13,6 eV, constante de Boltzmann kB=1,4×10−23 m2kgs−2K−1=8.6×10−5 eVK−1, constante eletrostaˊtica =9×109 kg m3s−2C−2, velocidade da luz no vaˊcuo c=3×108 m/s, constante da gravitaça˜o universal G=6,67×10−11 Nm2/kg2, 1 u=931,5 MeV, energia de repouso do proˊton =938.3 MeV, energia de repouso do neˆutron =939,6 MeV, energia de repouso do eleˊtron =0,52 MeV, massa do deuteˊrio =2,014u, massa do heˊlio-3 =3,016u, massa 40K=39,9640u, massa de 40Ar=39,9624u, constante de Stefan-Boltzmann σ=5,67×10−8 Wm−2K−4, raio de Bohr para o hidrogeˆnio =0,5×10−10 m. Uma aplicação importante das ondas de matéria é que elas são utilizadas na construção de microscópios eletrônicos. Microscópios eletrônicos de baixa energia, como os utilizados em LEEM (Low-Energy Electron Microscopy) ou em SEM (Scanning Electron Microscope) de baixa voltagem, exploram o comportamento ondulatório dos elétrons para obter imagens com resolução muito superior à da microscopia óptica convencional. Determine a energia cinética de um elétron para que seu comprimento de onda seja de 0,039 nm.

Uma aplicação importante das ondas de matéria é que elas...

Q4720963

Ano: 2026

Banca: Instituto de Apoio à Universidade de Pernambuco - UPENET IAUPE

Prova: UPENET/IAUPE - SES PE - Residência em Física Médica - 2026

$Nas quest \overset{o}{˜} es com respostas num \overset{e}{ˊ} ricas, considere o m \overset{o}{ˊ} dulo da aceleraç \overset{a}{˜} o da gravidade como g = 10, 0 m/s^{2}, densidade da \overset{a}{ˊ} gua = 1, 0 g/cm^{3}, o m \overset{o}{ˊ} dulo da carga do el \overset{e}{ˊ} tron = 1, 6 \times 1 0^{- 19} C, massa do pr \overset{o}{ˊ} ton = 1, 7 \times 1 0^{- 27} kg, massa do n \overset{e}{ˆ} utron = 1, 7 \times 1 0^{- 27} kg = 1, 009 u, massa do el \overset{e}{ˊ} tron = 9, 1 \times 1 0^{- 31} kg, π = 3, 14, constante de Planck h = 6, 6 \times 1 0^{- 34} Js ou 4, 14 \times 1 0^{- 15} eVs, energia de Rydberg = 13, 6 eV, constante de Boltzmann k_{B} = 1, 4 \times 1 0^{- 23} m^{2} kgs^{- 2} K^{- 1} = 8.6 \times 1 0^{- 5} eVK^{- 1}, constante eletrost \overset{a}{ˊ} tica = 9 \times 1 0^{9} kg m^{3} s^{- 2} C^{- 2}, velocidade da luz no v \overset{a}{ˊ} cuo c = 3 \times 1 0^{8} m/s, constante da gravitaç \overset{a}{˜} o universal G = 6, 67 \times 1 0^{- 11} Nm^{2} / kg^{2}, 1 u = 931, 5 MeV, energia de repouso do pr \overset{o}{ˊ} ton = 938.3 MeV, energia de repouso do n \overset{e}{ˆ} utron = 939, 6 MeV, energia de repouso do el \overset{e}{ˊ} tron = 0, 52 MeV, massa do deut \overset{e}{ˊ} rio = 2, 014 u, massa do h \overset{e}{ˊ} lio-3 = 3, 016 u, massa^{40} K = 39, 9640 u, massa de^{40} Ar = 39, 9624 u, constante de Stefan-Boltzmann σ = 5, 67 \times 1 0^{- 8} Wm^{- 2} K^{- 4}, raio de Bohr para o hidrog \overset{e}{ˆ} nio = 0, 5 \times 1 0^{- 10} m.$

Uma aplicação importante das ondas de matéria é que elas são utilizadas na construção de microscópios eletrônicos. Microscópios eletrônicos de baixa energia, como os utilizados em LEEM (Low-Energy Electron Microscopy) ou em SEM (Scanning Electron Microscope) de baixa voltagem, exploram o comportamento ondulatório dos elétrons para obter imagens com resolução muito superior à da microscopia óptica convencional.

Determine a energia cinética de um elétron para que seu comprimento de onda seja de 0,039 nm.

0,1 keV

1,0 keV

10,0 keV

100,0 keV

1000,0 keV

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