Seu próximo nível começa aqui
Seu desenvolvimento não pode ter limites. Garanta sua Assinatura Ilimitada e libere uma preparação completa com os melhores professores do Brasil.
Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é...
Observe as afirmativas abaixo.
I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.
II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.
III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.
IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.
As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa
A
Sentenças I, II, III.
B
Sentenças I e II.
C
Sentenças III e IV.
D
Sentenças I e III.
E
Sentenças II e IV.