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Principal método para a obtenção de informações relacionadas à topografia de superfície e a propriedades funcionais em micro e nanoescalas detecta forças diminutas entre uma ponta afiada e um substrato, e utiliza, convencionalmente, um cantilever microscópico que deflete sob a influência de forças locais, dando origem a um movimento que pode ser detectado por meio de uma alavanca óptica.
Assinale a alternativa que se refere à descrição apresentada.
Espectrofotômetro de absorção atômica
Microscopia eletrônica de varredura
Espectrofotômetro de massa
Microscopia eletrônica convencional
Microscopia de força atômica