Imagem de fundo

Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta reso...

Ano: 2012
Banca: FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência - FUNRIO
Prova: FUNRIO - CEITEC - Analista Administrativo - Área Engenharia Elétrica - 2012
Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO2 sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO2 e Si, respectivamente.
A
Microscopia eletrônica de transmissão (TEM).
B
Microscopia eletrônica de varredura (SEM).
C
Microscopia de força atômica (AFM).
D
Elipsometria.
E
Perfilometria.