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Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta reso...
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Q700256
Teclas de Atalhos
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Ano:
2012
Banca:
FUNRIO Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência - FUNRIO
Prova:
FUNRIO - CEITEC - Analista Administrativo - Área Engenharia Elétrica - 2012
Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO
2
sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO
2
e Si, respectivamente.
A
Microscopia eletrônica de transmissão (TEM).
B
Microscopia eletrônica de varredura (SEM).
C
Microscopia de força atômica (AFM).
D
Elipsometria.
E
Perfilometria.
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