Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica Ciências dos Materiais

Qual a técnica usada para a obtenção de uma imagem em secção transversal, com alta resolução, de uma camada de SiO2 sobre substrato Si, identificando as estruturas amorfa e cristalina do SiO2 e Si, respectivamente.
  • A. Microscopia eletrônica de transmissão (TEM).
  • B. Microscopia eletrônica de varredura (SEM).
  • C. Microscopia de força atômica (AFM).
  • D. Elipsometria.
  • E. Perfilometria.