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A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados –...
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Q700613
Teclas de Atalhos
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A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese
afirmar, EXCETO:
A
O canhão de íons usualmente é de Ga+, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.
B
Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.
C
Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga+, a amostra é atacada.
D
Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no
interior do CI.
E
A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.