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Considere as afirmativas abaixo: I – formação de imagem a...
Considere as afirmativas abaixo:
I – formação de imagem a partir de elétrons secundários e retro-espalhados decorrentes da interação de um feixe de elétrons
com uma amostra.
II – análise dos raios-X resultantes da relaxação dos átomos excitados pela interação entre o feixe primário de elétrons e a
amostra.
III – análise dos raios-X secundários característicos originados da incidência de um feixe de raios-X primário sobre uma
amostra segundo um ângulo inferior ao ângulo crítico.
IV – análise da energia cinética e da quantidade de elétrons oriundos de uma amostra submetida a um feixe de raios-X
incidente.
Assinale a alternativa que relaciona corretamente as afirmativas acima com as técnicas de análise a que se referem.
A
I – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Fluorescência de
raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
B
I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; III- Fluorescência de
raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
C
I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Microscopia
eletrônica de varredura; IV – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia.
D
I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Espectroscopia de raios-X
por dispersão de energia; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
E
I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Espectroscopia de raios-
X por dispersão de energia; IV- Fluorescência de raios-X por reflexão total.