Questões de Concurso sobre Óptica

A avaliação da orientação preferencial de cristalitos em materiais sólidos policristalinos exige a utilização da técnica de difração de raios X associada a uma microssonda.

Enquanto na espectroscopia de emissão o detector mede um sinal essencialmente na ausência de sinal de fundo, na espectroscopia de absorção o detector recebe uma radiação de fundo e mede o quanto dessa radiação é perdida. Por esse motivo, a espectroscopia de emissão normalmente possui maior sensibilidade que a espectroscopia de absorção.

Uma fonte que produz 10 W de fluxo radiante em todas as direções possui uma intensidade radiante superior a 2 W . sr^-1.

Interferometria é particularmente útil na aferição da qualidade de superfícies de dispositivos ópticos, em que se pode medir facilmente defeitos cujo tamanho pode ser da ordem de fração do comprimento de onda usado.

A calibração dos instrumentos ou a escolha inapropriada de padrões pode ter contribuído para a diferença dos valores que se observa entre os dois laboratórios.

A quantidade mais apropriada para se expressar o nível de iluminação em uma superfície é a irradiância, cuja unidade é o lux.

Em detectores do tipo fotovoltaico, o processo de absorção de fótons leva a uma separação de carga no dispositivo, gerando uma tensão que é proporcional ao fluxo de fótons que atinge o detector.

A energia solar é uma das fontes de energia limpa cujo uso deve ser incentivado. A figura acima ilustra um sistema de aquecimento solar demonstrativo que pode ser facilmente construído nos laboratórios de escolas do ensino médio e fundamental. Ele é composto de uma placa metálica (P) pintada de preto, em contato com um tubo metálico sinuoso (M); um depósito de água D e tubos (T) que ligam o depósito ao tubo metálico em contato com a placa. Os tubos sinuosos (M) no interior da placa devem ser de feitos de metal. O aquecimento da água contida no depósito D, pela absorção da energia solar, deve-se, basicamente, à ocorrência sucessiva dos fenômenos de

Assinale a única opção cuja relação entre espelho e imagem está correta:

A maior parte das aberrações em lentes, tais como astigmatismo, coma e aberração esférica, cresce com a abertura numérica, tendo em vista o afastamento da validade da aproximação paraxial.

As propriedades ópticas de um material são influenciadas por sua porosidade.

Um aspecto que determina a intensidade de um processo de absorção de fótons de determinada energia em um material é a densidade de estados, por unidade de energia, que podem ser conectados por esses fótons.

Os dados obtidos revelam a existência de componentes de incerteza do tipo B.

Ao se usar um espectrômetro cujo elemento dispersivo seja um prisma, deve-se tomar cuidado na análise do espectro para não confundir o espectro primário com a réplica decorrente da difração de segunda ordem.

Os fótons que compõem a fluorescência de raios X de uma amostra têm energia maior do que as partículas utilizadas na excitação da própria amostra.

Aberrações cromáticas podem ser reduzidas usando-se lentes compostas, conhecidas como lentes acromáticas, em que são cimentadas juntas uma lente divergente e outra convergente, com índices de refração diferentes, de forma que as aberrações cromáticas de cada uma praticamente se cancelem.

Considerando a aproximação de lentes delgadas, a focalização da imagem completa do filamento dentro da fenda de entrada do espectrômetro, cuja abertura é de 100 :m, pode ser obtida utilizando-se uma lente com distância focal de 5cm, situada a 5,5 cm da fenda de entrada do espectrômetro.

De acordo com a lei da radiação de Planck, a intensidade de radiação aumenta continuamente com a redução do comprimento de onda.

Considere uma lâmpada de vapor de cádmio, que possui, entre outras, linhas de emissão em 643,9 nm, 508,6 nm, 480,0 nm, 467,8 nm e 441,3 nm. Nesse caso, para se obter uma imagem interferométrica da linha em 643,9 nm, evitando-se a superposição da interferência das demais linhas, é correto usar na entrada ou na saída do interferômetro o filtro identificado pela letra B.

A figura a seguir ilustra o fenômeno da reflexão interna total em um prisma. No lado externo à superfície em que o feixe é refletido, o campo eletromagnético é evanescente, exponencialmente atenuado. Esse fenômeno ondulatório é semelhante ao que acontece com elétrons que incidem em uma barreira de potencial com energia menor que a da barreira.