Questões de Concurso sobre Óptica

Uma amostra cristalina sob tensão uniforme terá os seus picos de difração deslocados em relação àqueles de uma amostra não sujeita a tensões.

Um mecanismo de contraste possível na imagem formada por elétrons retroespalhados em um MEV é o contraste de composição.

O espectro mostrado na figura abaixo é típico de lâmpadas de descarga de baixa pressão, normalmente usadas para calibração de espectrômetros.

Luz refletida em uma superfície é parcialmente polarizada na direção perpendicular ao plano de incidência.

Em detectores fotocondutores, a presença de radiação altera a condutividade do elemento detector devido a transições de elétrons a partir de estados cheios, na banda de condução, para estados ligados vazios no gap do material de que é feito.

A figura abaixo ilustra o tipo de padrão que se pode observar em um anteparo distante de uma fenda linear uniformemente iluminada por um feixe de luz colimado. Essa figura mostra a difração de Fraunhofer da fenda, em que as ondas que chegam ao anteparo podem ser tratadas como ondas planas.

A detecção fotovoltaica não requer que o dispositivo seja polarizado.

Um acoplador óptico semicondutor é constituído por um dispositivo emissor de luz e por um fotodetetor.

Pode-se minimizar a reflexão da luz em uma superfície depositando-se sobre ela uma camada de material de índice de refração menor que o da superfície, com espessura óptica igual a um múltiplo ímpar 1/4 de do comprimento de onda da luz.

O esquema mostrado na figura é conhecido como interferômetro de Michelson e pode ser facilmente adaptado para medir o índice de refração de gases.

Em geral, espectroscopia óptica na região visível do espectro eletromagnético envolve mudanças dos níveis de energia dos núcleos atômicos.

O tempo de resposta de detectores fotocondutores depende de processos de captura de carga em estados de impurezas ou defeitos, cuja densidade pode ser controlada externamente por meio de um resistor.

É possível gerar raios X fazendo com que um feixe de elétrons com energia cinética da ordem de dezenas de keV incida sobre um alvo metálico.

A placa indicada como P deve ser colocada no ângulo de Brewster a fim de polarizar o feixe que passa por ela e, ao mesmo tempo, reduzir a perda de intensidade.

O poder de resolução espectral de interferômetros que funcionam por múltipla reflexão do feixe decresce com o aumento da refletividade dos espelhos.

Se o filamento emitir 10 W de fluxo radiante, então uma lente de 10 cm de diâmetro colocada a 1 m de distância do fio será capaz de captar um fluxo radiante superior a 1 W.

A incerteza padrão combinada é a incerteza padrão do resultado de uma medição que depende dos valores de várias outras grandezas. Nesse caso, ela é obtida tomando-se a raiz quadrada positiva de uma soma de termos, que constituem as variâncias e covariâncias dessas outras grandezas, ponderadas de acordo com quanto o resultado da medição varia com mudanças nessas grandezas.

Considere que os ensaios realizados pelo laboratório 1 sejam repetidos pouco tempo depois, exatamente nas mesmas condições, e produzam os mesmos resultados. Nesse caso, é correto afirmar que os resultados possuem boa reprodutibilidade.

Dois satélites artificiais em órbitas circulares de raios R₁ = R e R₂ = 2R, em torno da Terra, têm períodos T₁ e T₂, respectivamente. Seus períodos satisfazem a relação:

De acordo com o texto, a maior diferença entre os conceitos fluorescência e fosforescência está relacionada ao tempo entre a absorção da energia e a emissão do fóton.