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Qual técnica é utilizada para determinar a orientação cristalina de uma amostra através da difração de elétrons na microscopia eletrônica de varredura?
Considere as seguintes condições: A amostra é posicionada em um ângulo de 70° a 80° em relação ao feixe de elétrons, e as figuras de difração são capturadas por uma câmara CCD conectada a uma tela de fósforo.
Espectrômetro de Dispersão de Comprimento de Onda (WDS).
Espectroscopia de Energia Dispersiva de Raios X (EDS).
Difração de Elétrons Retroespalhados (EBSD).
Difratômetro de Raios X.