Questões de Concurso sobre Técnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais - Página 22 | Gran Questões

Questões de Concurso sobre Técnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais

 
 
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É comum o encaminhamento de materiais sem nenhuma especificação para análises nos laboratórios químicos dos institutos de criminalística. Para a identificação de uma amostra desconhecida, é correta a utilização da técnica:


A

UV (Ultra-Violeta), pois é utilizada para a determinação de metais de transição.


B

MEV (Microscopia Eletrônica de Varredura), pois é indicada para a determinação qualitativa e quantitativa de compostos orgânicos.


C

CG-MS, pois não demanda a utilização de padrões posto que disponham de grandes bibliotecas eletrônicas.


D

Cromatografia iônica, pois determina a condutividade da amostra que caracteriza a maioria dos compostos orgânicos.


E

CL-MS, pois identifica os componentes orgânicos e inorgânicos de uma amostra biológica e fornece a composição centesimal elementar.

Analise as assertivas a seguir no que diz respeito aos métodos instrumentais utilizados na determinação quantitativa de metais, como alumínio, ferro, cádmio, em amostras de maneira geral.

I. Espectroscopia de absorção atômica.

II. Cromatografia iônica.

III. Espectrometria de emissão com plasma.

Quais estão corretas?


A

Apenas I.


B

Apenas I e II.


C

Apenas I e III.


D

Apenas II e III.


E

I, II e III.

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:

A
O canhão de íons usualmente é de Ga+, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.

B
Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.

C
Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga+, a amostra é atacada.

D
Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI.

E
A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.
A floculação e a coagulação consistem na clarificação das águas pelo arraste do material finamente dividido em suspensão por agentes coagulantes. Dificuldades com a coagulação, frequentemente, ocorrem devido aos precipitados de baixa decantação, ou flocos frágeis que são facilmente fragmentados sob forças hidráulicas, nos decantadores e filtros de areia. Os auxiliares de coagulação beneficiam a floculação, aumentando a decantação e o enrijecimento dos flocos. Os materiais mais utilizados são os polietrólitos, a sílica ativada, agentes adsorventes de peso e oxidantes. Os polietrólitos catiônios apresentam, como principal característica, com relação ao sulfato de alumínio

A
o menor custo devido exclusivamente aos materiais serem mais baratos.

B
o menor custo em virtude de necessitar de dosagens reduzidas e os materiais serem mais baratos.

C
o maior custo, pois, além de serem materiais mais caros, também necessitam de dosagens elevadas.

D
o lodo mais denso e fácil de ser desidratado, facilitando o manuseio e disposição.

E
o lodo mais gelatinoso e volumoso, dificultando o manuseio e disposição.
Imagem associada para resolução da questão

A
O volume de material analisado é definido pela profundidade de penetração dos fótons de excitação.

B
Apenas uma fração dos elétrons fotoexcitados escapa da amostra, somente aqueles que tem momento na direção da superfície.

C
Os fotoelétrons carregam informação sobre o ambiente químico do átomo, podendo assim informar sobre as ligações químicas presentes.

D
O espectro de fotoemissão pode ter os níveis de caroço, os elétrons Auger e os elétrons de valência do material.

E
A área sob um pico é proporcional à concentração do elemento, podendo, portanto, ser feita uma análise quantitativa.
Imagens de microscopia eletrônica de varredura são muito usadas na inspeção de circuitos integrados. Nesse contexto são verdadeiras as seguintes afirmativas, EXCETO:

A
O contraste entre as estruturas de composição química diferente pode ser evidenciado com o uso de imagem de elétrons retroespalhados.

B
Nas energias típicas do feixe (10-30keV) as camadas dielétricas do circuito se tornam praticamente transparentes e o efeito de carregamento é desprezível.

C
Topografia pode ser evidenciada inclinando-se a amostra em relação ao feixe.

D
Raios-x característicos são gerados no volume de interação do feixe, e permitem uma análise química com sua detecção.

E
Circuitos integrados podem ser danificados pelo feixe de elétrons do microscópio.
Com respeito à resolução e formação de imagem em um microscópio eletrônico de varredura, pode-se afirmar que

A
a resolução é determinada pelo volume de interação do feixe no material.

B
a resolução é determinada pelo diâmetro do feixe.

C
a resolução é definida pelo comprimento de onda de de Broglie dos elétrons do feixe.

D
a formação da imagem se dá através de óptica específica para coleta dos elétrons secundários.

E
a imagem formada com os elétrons retroespalhados elasticamente tem melhor resolução que a formada com os elétrons secundários.
Eletrodo de membrana de vidro, condutivímetro e cromatógrafo são exemplos de analisadores. Considere as afirmações a seguir referentes a tais analisadores.

I - Na medição de pH, pode-se usar um termocompensador para corrigir os efeitos da variação de temperatura sobre o eletrodo de membrana de vidro.

II - Os condutivímetros são utilizados na monitoração da água deionizada e em linhas de retorno de condensado.

III - Em um cromatógrafo, a separação dos vários componentes da amostra ocorre na coluna cromatográfi ca.

Está correto o que se afirma em

A
I, apenas.

B
II, apenas.

C
I e II, apenas.

D
II e III, apenas.

E
I, II e III.
Imagem associada para resolução da questão

A
Que entre a amostra e o analisador há uma diferença de potencial devido à diferença entre as suas funções-trabalho.

B
Ao iluminar o semicondutor com fótons de 21,2 eV, elétrons que saem do semicondutor com energia próxima de zero são detectados no analisador com energia cinética da ordem da diferença das energias de vácuo. O espectro medido é deslocado no sentido de energia cinética positiva.

C
Caso a função-trabalho do semicondutor fosse menor que a função-trabalho do analisador o espectro de fotoemissão do semicondutor medido pelo analisador seria truncado nas suas energias cinéticas baixas.

D
Que o sistema semicondutor-metal não se encontra em equilíbrio termodinâmico.

E
Que as energias de ligação dos níveis de caroço do semicondutor não dependem do analisador, pois são referenciadas ao máximo da banda de valência do semicondutor.
Aponte dentre as afirmativas abaixo, aquela que NÃO é correta.

A
Do ponto de vista do wafer, a sequência de passos no processo de fotolitografia é: aplicação do filme fotossensível, alinhamento da máscara com o wafer, exposição do fotoresiste, revelação do padrão.

B
O efeito da difração da luz usada para exposição com o padrão da máscara limita a resolução das estruturas.

C
No resiste positivo as partes não expostas são dissolvidas na revelação.

D
O ambiente da sala de fotolitografia é iluminado em um comprimento de onda que não interfere com o material fotossensível.

E
O fotoresiste é exposto a luz ultravioleta para ser sensibilizado (usualmente as linhas g, h ou i de lâmpadas de mercúrio).
Microscopias eletrônicas de varredura e transmissão são intensamente utilizadas na análise de falhas e estudo de confiabilidade na indústria de semicondutores e microeletrônica. As afirmativas seguintes sobre a microscopia eletrônica de transmissão são verdadeiras, EXCETO:

A
Um microscópio eletrônico de transmissão é similar a um microscópio óptico para luz visível, contendo um conjunto de lentes de magnificação para a formação da imagem.

B
A resolução em um microscópio de transmissão é muito mais alta que em um microscópio de transmissão porque não há o volume de interação na amostra.

C
O comprimento de onda de de Broglie dos elétrons do feixe é da ordem de 0,004 nm.

D
A preparação da amostra é o ponto fraco da microscopia eletrônica de transmissão, porque a amostra tem que ser afinada até ficar transparente aos elétrons.

E
O comprimento de onda de de Broglie dos elétrons do feixe é muito menor que a distância interatômica dos materiais, e devido a isso não ocorre difração dos elétrons mesmo em amostras cristalinas.
Nos últimos anos, houve uma grande expansão na aplicação de surfactantes nas áreas de tecnologia, impressão eletrônica, gravação magnética, microeletrônica, biotecnologia e pesquisa. Entretanto, a aplicação de surfactantes pode produzir poluição ambiental e uma série de problemas nas plantas de tratamento de efluentes. Dessa forma, têm sido desenvolvidos processos de tratamento de efluentes contendo surfactantes utilizando argilas como adsorventes. Trocando os cátions da argila por cátions orgânicos como, por exemplo, surfactantes, o caráter da argila é modificado de hidrofílica para hidrofóbica e a argila pode ser denominada como argila organofílica, sendo capaz de adsorver compostos orgânicos. Este processo de troca iônica só é possível, porque as argilas

A
são formadas por sílica e alumina.

B
apresentam estruturas cristalinas facilmente modificáveis.

C
são constituídas por uma estrutura octaédrica de alumina.

D
apresentam estrutura tetraédrica de sílica.

E
apresentam cátions trocáveis no espaço interlamelar.
Um procedimento-padrão de limpeza na fabricação de Circuitos Integrados é verificar se os recipientes e materiais que serão manipulados estão limpos. Isso ocorre antes mesmo da limpeza das lâminas de silício, para evitar a contaminação. Nesse caso, ocorrem 2 (duas) etapas de limpeza desses materiais: a de pré-lavagem e a de retirada de gordura. A etapa de pré-lavagem é realizada com detergente apropriado. Outra possibilidade é que, em vez da lavagem com detergente, as vidrarias do laboratório sejam mergulhadas em uma solução denominada

A
BOE.

B
SPM.

C
SC1.

D
SC2.

E
Água régia (HCl/HNO3).
Atualmente, são adotados 6 (seis) diferentes tipos de curvas de falha utilizados para caracterizar a vida dos equipamentos. O padrão de curva que apresenta uma probabilidade constante de falha no início, seguida de uma zona de desgaste ao final da vida útil, é mostrado pela curva

A
Imagem associada para resolução da questão

B
Imagem associada para resolução da questão

C
Imagem associada para resolução da questão

D
Imagem associada para resolução da questão

E
Imagem associada para resolução da questão

O emprego de microscópios eletrônicos de varredura (MEV) equipados com espectrômetro de dispersão de energia (EDS) e espectrômetro de dispersão de comprimento de onda (WDS) permite a realização de análises


A

microestruturais de materiais, análises morfológicas de superfícies de fratura e análises químicas qualitativas e quantitativas de fases e inclusões.


B

morfológicas em materiais particulados, análises de materiais nanoestruturados e a determinação da textura cristalina.


C

microestruturais e morfológicas em materiais particulados, em soluções coloidais e análises químicas qualitativas.


D

microestruturais e morfológicas em materiais particulados, em soluções coloidais e em amostras biológicas.


E

microestruturais de materiais poliméricos, análises morfológicas de materiais nanoestruturados e análises químicas qualitativas e quantitativas de soluções coloidais.

Imagem associada para resolução da questão

A
Espectroscopia eletrônica de perda de energia (EELS), topografia de raios X (XRT), espectroscopia de fotoemissão com ultravioleta (UPS), fluorescência de raios X (XRF), espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS).

B
Microscopia eletrônica de varredura (SEM), catodolumiscência (CL), fotocondutividade (PC), topografia de raios X (XRT), espectroscopia de massa de íons secundários (SIMS).

C
Difração de elétrons lentos (LEED), eletroluminscência (EL), espectroscopia de fotoemissão com ultravioleta (UPS), topografia de raios X (XRT), espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS).

D
Espectroscopia de elétrons Auger (AES), microsonda de elétrons (EMP), espectroscopia de fotoemissão com raios X (XPS), fluorescência de raios X (XRF), espectroscopia de massa de íons secundários (SIMS).

E
Corrente induzida por feixe de elétrons (EBIC), microsonda de elétrons (EMP), espectroscopia de fotoemissão com ultravioleta (UPS), difração de raios X (XRD), espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS).
A oxidação por luz ultravioleta resulta da absorção da luz a 185nm, produzindo radicais de hidroxil, que, por sua vez, oxida os materiais orgânicos ionizáveis. Esse processo isolado não garante a remoção das substâncias orgânicas da água. Para isso, deve ser realizada a esterilização por ultravioleta, a qual é realizada por absorção da luz de 254nm. Essa esterilização destrói o DNA e RNA dos microorganismos, causando a morte da sua célula. Com relação às vantagens do sistema ultravioleta não se pode afirmar que

A
altera o pH da água.

B
não há adição de produtos químicos na água.

C
não altera sabor ou odor da água.

D
preserva os sais minerais próprios da água.

E
os organismos não criam resistências.
 
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