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A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de...
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Q4097763
Teclas de Atalhos
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A formação da imagem durante uma microscopia eletrônica de varredura (MEV) decorre da interação entre o feixe de elétrons acelerados e a amostra, promovendo processos de espalhamento elástico ou inelástico. Nesse contexto, cada tipo de elétrons gerado contribui com finalidades distintas para a construção da imagem.
Assinale a alternativa correta que apresenta os dois tipos usuais de elétrons que são utilizados na obtenção da imagem e suas respectivas definições.
A
Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra, enquanto os do segundo tipo estão associados à variação da composição química da amostra.
B
Elétrons secundários e retroespalhados. Os do primeiro tipo estão associados à variação da composição química da amostra, enquanto os do segundo tipo são responsáveis por revelar a topografia da amostra.
C
Elétrons primários e secundários. O primeiro refere-se às alterações na composição elementar fornecendo contraste, e o segundo é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra.
D
Elétrons primários e secundários. O primeiro é responsável pelo contraste relacionado à topografia da amostra, e o segundo refere-se às alterações na composição elementar, fornecendo contraste.
E
Elétrons primários e secundários. O primeiro e o segundo referem-se às alterações na composição elementar do material, porém a questão do contraste topográfico é obtida com subtração da carga de cada tipo de elétron.