

Seu próximo nível começa aqui
Seu desenvolvimento não pode ter limites. Garanta sua Assinatura Ilimitada e libere uma preparação completa com os melhores professores do Brasil.
A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque
o ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.
a amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.
o modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.
irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.
a medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.