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Durante uma análise por microscopia eletrônica de varredura, um feixe de elétrons é direcionado sobre uma amostra sólida, em que sua interação com a superfície espalha os elétrons elasticamente e inelasticamente.
Com base nos princípios físicos envolvidos nesse processo, assinale a alternativa correta em relação ao espalhamento dos elétrons e a profundidade de penetração no material.
O espalhamento de elétrons é independente das características do material que está sendo analisado.
A profundidade de penetração é proporcional a densidade e ao número atômico do elemento analisado.
A profundidade de penetração na amostra pelo feixe não apresenta interferência com o espalhamento elástico dos elétrons.
A profundidade de penetração é proporcionalmente dependente da energia incidente do feixe de elétrons.
A penetração dos elétrons na amostra ocorre apenas quando o feixe incide com ângulo de 90° em relação à superfície.