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Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conf...
Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.
Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que
A
no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.
B
o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.
C
o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.
D
o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.
E
o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.