Seu próximo nível começa aqui
Seu desenvolvimento não pode ter limites. Garanta sua Assinatura Ilimitada e libere uma preparação completa com os melhores professores do Brasil.
Um sistema de inspeção óptica de alta precisão em...
Um sistema de inspeção óptica de alta precisão em semicondutores utiliza um feixe de luz de uma fonte coerente que passa por um polarizador linear e é direcionado para uma amostra. A luz refletida pela superfície da amostra é então focalizada em uma rede de difração. O padrão de luz resultante é capturado por um detector CCD, onde a análise das franjas de brilho e escuridão permite inferir propriedades nanométricas do material. A interação dos fenômenos ópticos nesse processo é:
A
O polarizador e a rede de difração causam a refração e a reflexão da luz, e o padrão de interferência é uma propriedade intrínseca da fonte de luz, que apenas é visualizada pelo detector.
B
A polarização da luz incidente controla a orientação do campo elétrico. A rede de difração separa a luz refletida em ordens, o que cria o padrão de franjas no detector.
C
A interferência da luz ocorre quando o feixe polarizado atinge a amostra, resultando em um padrão de difração homogêneo na rede, que é diretamente proporcional à rugosidade da superfície.
D
A difração da luz na rede é o processo que a polariza, permitindo que as ondas interajam para formar um padrão de interferência, que é independente do comprimento de onda da luz utilizada.
E
A luz é polarizada para amplificar seu comprimento de onda, o que melhora a difração na rede. A interferência é um efeito colateral irrelevante, pois a informação principal está na intensidade da luz refletida.