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As propriedades ópticas de um semicondutor independem da largura da banda proibida (bandgap) do material.
A análise de superfícies reativas por microscopia por ponta de prova requer um estrito controle das condições ambientais para evitar a contaminação da região investigada.
As tecnologias OLED e CMOS podem ser combinadas para produzir micromostradores luminosos.
A precisão de uma medição indica quão próximos estão o valor estimado e o verdadeiro valor do mensurando.
Uma característica favorável à utilização industrial dos polímeros conjugados em optoeletrônica é a elevada durabilidade desses materiais.
Devido à simetria de translação de uma rede de Bravais, são necessários apenas dois números para especificar a orientação de um plano cristalino.
Fotometria é parte da Física que trata da medida das intensidades luminosas, com aplicação em todas as áreas do conhecimento. Em relação à fotometria, assinale a alternativa incorreta:
A medida fotométrica quantifica a absorção ou transmissão de energia proveniente de uma luz branca que passa por uma barreira selecionadora de faixa de comprimento de onda, atravessa uma solução em análise e depara-se com uma célula fotoelétrica
Os fotocolorímetros utilizam filtros que apenas conseguem limitar as faixas de comprimento de onda ou bandas de passagem inferiores a 20nm.
O método mais comumente utilizado para calibrar um espectrofotômetro é através de filtros especiais de absorção, devidamente calibrados com o óxido de hólmio e o didímio.
A curva de absorção para uma determinada solução colorida é traçada com os valores das absorbâncias nas ordenadas e os valores dos comprimentos de onda nas abscissas.
Uma luz incidente sobre determinada solução provoca diminuição da intensidade energética na luz emergente.
O uso de materiais monocristalinos como substratos para a fabricação de dispositivos semicondutores e circuitos integrados é devido, entre outros fatores, às propriedades de transporte de carga elétrica apresentadas pelo corpo desses materiais.
A orientação cristalina é um fator relevante na escolha de substratos para a fabricação de dispositivos semicondutores e circuitos integrados.
As propriedades ópticas de um material sólido estão fortemente relacionadas à sua estrutura atômica.
A identificação da estrutura (monocristalino, policristalino, amorfo) de um material sólido é efetuada por meio de procedimentos químicos de análise.
O emprego de procedimentos de transformação funcional possibilita a recuperação de informações, minimizando o ruído, nas análises espectroscópicas de materiais e dispositivos para as tecnologias da informação.
Um fotodetetor de Si pode detectar o sinal de um diodo emissor de luz de GaAs, pois este diodo possui um elevado coeficiente de emissão de luz na faixa do ultravioleta.
O emprego de métodos de análise por espectroscopia de massa de íons secundários propicia significativa sensibilidade, além de possibilitar a identificação de grande número de elementos químicos, mas provoca degradação localizada da amostra analisada.