Questões de Concurso sobre Eletrônica analógica e digital - Página 14 | Gran Questões

Questões de Concurso sobre Eletrônica analógica e digital

 
 
Disciplina 1
Assunto 9
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É um parâmetro do SCR:


A

β − ganho de corrente entre gatilho e anodo.


B

VAK − tensão reversa entre anodo e catodo.


C

IDSS − corrente de saturação de dreno.


D

IH − corrente de manutenção.


E

IAG − corrente entre anodo e gatilho.

A função da entrada ENABLE (habilitar) em um circuito integrado multiplexador é a de

A
habilitar a entrada CLEAR (apagar) a aplicar o nível lógico baixo na saída do CI multiplexador.

B
permitir a alteração de estados nas bordas de subida do sinal CLK (relógio).

C
ativar metade das entradas do CI multiplexador.

D
ativar todas as entradas do CI multiplexador.

E
permitir a alteração de estados nas bordas de descida do sinal CLK (relógio).

Caracterizam um FET as especificações:


A

Baixa impedância de entrada e curva de transcondutância linear.


B

Elevado ganho de tensão e terminais denominados porta, anodo e catodo.


C

Elevada impedância de entrada e terminais denominados porta, fonte e dreno.


D

Baixa impedância de saída e camadas de depleção nulas.


E

Elevada impedância de entrada e tensão de pich-off nula.

Em que consiste o efeito “Antenna” e como se pode eliminá-lo?

A
O efeito “Antenna” surge quando a área total do metal que conecta o gate de um transistor a outros pontos do circuito for excessiva. Nesses casos, tal metal atua como uma antena que, sob a ação de ondas eletromagnéticas presentes no ambiente, acaba por acumular carga suficiente para destruir o óxido de gate desse transistor. Pode-se eliminar esse problema interrompendo linhas de metal muito extensas (fazendo uma conexão em outro nível de metalização), ou ligando-se um diodo diretamente polarizado entre este metal e o substrato para escoar a carga que venha a se acumular.

B
O efeito “Antenna” surge quando, em função do roteamento, duas áreas suficientemente grandes de metais 1 e 2 se sobrepõem, sendo que o metal 1 está ligado ao gate de um transistor. Nessa situação, o metal 2 atua como uma antena que, sob a ação de ondas eletromagnéticas presentes no ambiente, acaba por induzir carga suficiente no metal 1 para destruir o óxido de gate do transistor a ele ligado. Pode-se eliminar esse problema ligando um diodo diretamente polarizado entre esse metal e o substrato para escoar a carga que venha a se acumular.

C
O efeito “Antenna” surge quando, em função do roteamento, duas áreas suficientemente grandes de metais 1 e 2 se sobrepõem, sendo que o metal 1 está ligado ao gate de um transistor. Nessa situação, o metal 2 atua como uma antena que, sob a ação de ondas eletromagnéticas presentes no ambiente, acaba por induzir carga suficiente no metal 1 para destruir o óxido de gate do transistor a ele ligado. Pode-se eliminar esse problema blindando a linha de metal 2, aterrando-a.

D
O efeito “Antenna” surge quando a área total do metal que conecta o gate de um transistor a outros pontos do circuito for excessiva. Nesses casos, tal metal atua como uma antena durante o processo de fabricação e acaba por acumular carga suficiente para destruir o óxido de gate desse transistor. Pode-se eliminar esse problema interrompendo linhas de metal muito extensas (fazendo uma conexão em outro nível de metalização), ou ligando-se um diodo reversamente polarizado entre esse metal e o substrato para escoar a carga que venha a se acumular.

E
O efeito “Antenna” surge quando a área total do metal que conecta o gate de um transistor a outros pontos do circuito for excessiva. Nesses casos, tal metal atua como uma antena durante o processo de fabricação e acaba por acumular carga suficiente para destruir o óxido de gate desse transistor. Pode-se eliminar esse problema interrompendo linhas de metal muito extensas (fazendo uma conexão em outro nível de metalização), ou ligando-se um diodo diretamente polarizado entre esse metal e o substrato para escoar a carga que venha a se acumular.

Imagem associada para resolução da questão


A

amplificador de tensão classe A.


B

estabilizador de tensão com ripple nulo independente da corrente de carga.


C

retificador controlado com eliminador de ruídos.


D

retificador de meia onda com filtro capacitivo.


E

retificador em ponte com filtro capacitivo.

Considere a operação do software Analog Design Environment a partir da sua janela principal. Deseja-se configurar um estímulo a um circuito. Sobre essa ação, considere as alternativas abaixo. A alternativa FALSA é a que diz que

A
os estímulos podem ser configurados na guia “Analyses - Stimuli” na janela de simulação.

B
a adição de símbolos de fontes de estímulos ao esquemático os introduz automaticamente.

C
os estímulos podem ser configurados na guia “Setup - Stimuli” na janela de simulação.

D
os estímulos podem ser configurados isoladamente e salvos em um arquivo de estímulos.

E
o campo “Function” da guia “Setup - Stimuli”, acessível a partir da janela de simulação, possibilita a seleção de vários formatos de onda para os estímulos.
2:10] ##1 c” é equivalente a “a ##1 ((1[*0:$] ##1 b) [*2:10]) ##1 c”

A
Somente I é válido.

B
Somente II é válido.

C
Somente III é válido.

D
Somente I e II são válidos.

E
II e III são válidos.
Imagem associada para resolução da questão

A
definir em cada bloco de controle os valores das saídas, ou seja, dentro do if deveria definir o valor de saída de g e para o else deveria definir o valor de f.

B
suprimir a definição de f e g como reg, pois já foram previamente declarados como output.

C
descrever um circuito com o mesmo número de entradas e saídas.

D
fazer com que os valores de saída dependessem diretamente de condições de todas as entradas, ou seja, a condição if deveria conter condições também das entradas b e c.

E
utilizar uma declaração distinta de always para descrever o comportamento do circuito.

Um decodificador BCD − 7 segmentos para display anodo comum tem em suas saídas os níveis lógicos seguintes: (a = b = d = e = g = 0) e (c = f = 1). Nesse caso, o display apresenta o algarismo


A

2.


B

3.


C

0.


D

5.


E

7.

Tendo em vista o fluxo de implementação de um projeto digital de um Circuito Integrado de Aplicação Específica (ASIC – “Application Specific Integrated Circuit”), pode-se afirmar que o processo de “Floorplanning”

A
prepara a região do chip que será utilizada para implementar os módulos do projeto.

B
verifica os requisitos de desempenho de todos os sinais do circuito com relação ao tempo de propagação entre os módulos.

C
realiza a distribuição dos blocos de um circuito ao longo do chip, definindo a localização dos pinos de entrada e saída e de alimentação.

D
define o tipo de recobrimento utilizado na estrutura do chip.

E
planeja a distribuição de consumo ao longo da superfície do chip, buscando a uniformização na distribuição de potência.
Imagem associada para resolução da questão

A
As arquiteturas propostas são utilizadas em situações diferentes de projeto, a síntese escolhe a arquitetura baseada na descrição funcional do circuito.

B
O projeto com o latch não apresenta problemas relacionados à instabilidade, já que o sinal de enable que chega à porta 'AND' permanece estável por mais tempo, garantindo um pulso completo do clock na saída do circuito.

C
A arquitetura baseada em latch, quando o sinal de enable ('EN') está habilitado, o sinal de saída do latch corresponde ao sinal do clock, fazendo com que a porta 'AND' sincronize esse sinal.

D
A arquitetura que não utiliza o latch é mais estável, já que o latch não deve ser utilizado em projetos digitais standardcells, pois esses elementos não têm seus requisitos de tempo facilmente checados.

E
Devido ao aumento de área, a arquitetura baseada em latch não é muito utilizada, sendo apenas apresentada para tecnologias mais antigas, onde a árvore de clock não permitia lógica combinacional diretamente ligada a ela.
Dado o seguinte trecho de código em System Verilog.

...

rand bit [3:0] Instr;

rand bit [3:0] ALU_OP;

constraint todos_os_valores {

(Instr != 4’d0) -> (ALU_OP == 4’d0);

}

Qual a probabilidade de se ter Instr == 4’d1 e ALU_OP == 4’d0?

A
1/16

B
1/31

C
1/256

D
1/128

E
0
 
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