Questões de Concurso sobre Eletrônica analógica e digital - Página 18 | Gran Questões

Questões de Concurso sobre Eletrônica analógica e digital

 
 
Disciplina 1
Assunto 9
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Com relação às spare cells, pode-se afirmar que:

A
São introduzidas somente no estágio de Back-End (projeto físico).

B
São células posicionadas aleatoriamente tendo sua utilização possibilitada somente pelo processo de FIB (Focus Ion Beam).

C
Permite pequenas correções no projeto do chip já fabricado, reduzindo os custos das máscaras.

D
São utilizados apenas em ECOs (Engineering Change Order) para alterar as máscaras de dopagem.

E
São células utilizadas para manter a coerência nas ligações das linhas de alimentação e terra.
Dado que em um código a nível de RTL, a operação:

if (a ^ b)

foi erroneamente trocada por:

if (a | b)

Que tipo de metodologia de teste e métrica de cobertura de teste provavelmente conseguirá detectar o problema?

A
Simulação direta com métrica de cobertura de linha de código.

B
Teste de equivalência de circuitos entre o RTL e o circuito sintetizado a nível de portas lógicas.

C
Simulação aleatória com métrica de cobertura de condição.

D
Simulação direta com métrica de cobertura de caminhos.

E
Simulação aleatória com métrica de cobertura de “toggle”.

Sobre diodo retificador, é correto afirmar:


A

No diodo de silício, a tensão reversa de ruptura é igual ou superior a 0,6 V.


B

A tensão direta quando o diodo está em condução pode atingir valores superiores a 1 kV.


C

Para o diodo entrar em condução, é necessário aplicar uma tensão direta superior a 13 V.


D

Na polarização reversa, o diodo entra em condução normal apenas se a tensão aplicada for superior à especificação breakover voltage.


E

O diodo conduz quando o potencial do anodo é, aproximadamente, 0,6 V acima do potencial do catodo.

Um dos grandes problemas enfrentados no projeto digital é a falta de especificação dos atrasos nos circuitos fora do chip. Para minimizar esses problemas, uma solução é a utilização de constraints somente nas interfaces. No caso do sinal de saída, o objetivo é garantir que o sinal esteja estável pela maior tempo possível. Para um sistema com um período de clock de 30ns, quais as constraints que mais se ajustam para que o sinal de saída esteja obrigatoriamente estável por apenas 7ns (excetuando-se os tempos inerentes ao clock)?

A
create_clock –period 30 –waveform {0 15} CLK

set_output_delay -max 23.0 -clock CLK {data_out}

set_output_delay -min 0.0 -clock CLK {data_out}

B
create_clock –period 30 –waveform {0 15} CLK

set_output_delay -max 7.0 -clock CLK {data_out}

set_output_delay -min 23.0 -clock CLK {data_out}

C
create_clock –period 30 –waveform {0 7} CLK

set_output_delay -max 15.0 -clock CLK {data_out}

set_output_delay -min 7.0 -clock CLK {data_out}

D
create_clock –period 30 –waveform {0 7} CLK

set_output_delay -max 15.0 -clock CLK {data_out}

set_output_delay -min 0.0 -clock CLK {data_out}

E
create_clock –period 30 –waveform {0 15} CLK

set_output_delay -max 7.0 -clock CLK {data_out}

set_output_delay -min 0.0 -clock CLK {data_out}
Qual a desvantagem de se utilizar uma variável local (“local variable”) em uma asserção em SVA, como no exemplo que se segue?

property p;

bit [3:0] x;

@(posedge clk)

!a [*0:$] ##1 (a,x = d) ##1 !a [*0:$] |=> (a && x == c)

endproperty

A
É mais confuso de se entender a expressão em SVA.

B
A variável local vai gerar não determinismo no processamento do SVA.

C
A variável local pode requerer uma quantidade ilimitada de armazenamento.

D
A variável local não é interpretada corretamente em todos os simuladores comerciais

E
Nenhuma das respostas acima.
Uma forma de corrigir problemas de violação de hold pode ser o seguinte:

A
Diminuir a frequência do clock.

B
Aumentar a velocidade dos dados.

C
Atrasar os dados para o próximo registrador.

D
Alterar o clock slew.

E
Inserir o valor do cross talk.
A linguagem VerilogAMS HDL (Analog and Mixed-Signal Extensions to Verilog Hardware Description Language) estende as características de uma linguagem de modelagem digital para prover uma linguagem unificada com semânticas analógicas e digitais e com compatibilidade retroativa. A respeito da linguagem VerilogAMS HDL, a afirmação FALSA é que contém as informações de que

A
números reais discretos podem ser acessados por variáveis no contexto contínuo (analógico) como números reais.

B
números inteiros discretos podem ser acessados por variáveis no contexto contínuo (analógico) como números inteiros.

C
números inteiros discretos podem ser acessados por variáveis no contexto contínuo (analógico) como números reais.

D
bits discretos e agrupamentos de bits (ex.: barramentos) somente são acessados por variáveis no contexto contínuo (analógico) como números inteiros.

E
o acesso de variáveis a agrupamentos discretos com mais de 31 bits não é permitido.
I. Em verificação de caixa preta (“black-box verification”), a verificação funcional é realizada sem conhecimento da implementação do RTL.

II. Em verificação de caixa branca (“white-box verification”), a verificação funcional é realizada tendo visibilidade completa do projeto digital implementado.

Sobre as afirmações acima, pode-se dizer que:

A
Em verificação de caixa preta, observamos as entradas e saídas de todos os módulos da hierarquia do design.

B
Um testbench utilizando a metodologia de caixa branca pode ser reutilizado em uma implementação diferente do mesmo projeto.

C
Um contador problemático pode ser verificado sem aumento de risco utilizando a metodologia de caixa preta, mesmo que ele não seja facilmente controlável ou seus valores observáveis.

D
Uma metodologia de teste correta tenta sempre que possível utilizar a metodologia de caixa-preta, mas utilizando metodologia de caixa-branca em partes de risco maior.

E
Verificação de caixa branca deve ser utilizada se todos os testes para a validação funcional do projeto forem escritos durante a implementação do projeto.
No projeto de um Circuito Integrado de Aplicação Específica (ASIC – “Application Specific Integrated Circuit”), o processo de realizar as conexões entre os módulos e entre as células lógicas, de forma que os sinais possam trafegar de acordo com os requisitos de tempo, chama-se

A
Floorplanning.

B
Posicionamento.

C
Síntese de conexão.

D
Roteamento.

E
Static Timing Analysis.
Com relação à incerteza do clock, considere as afirmativas:

I – O atraso de propagação contribui para a incerteza do clock.

II – O clock skew não influencia na incerteza do clock.

III – O clock jitter contribui para a incerteza do clock.

Está correto APENAS o que se afirma em

A
I.

B
II.

C
III.

D
I e II.

E
I e III.
Uma empresa de CI planeja lançar um microcontrolador que possui diversos periféricos, como conversores AD e DA, SPI, USB, I²C e memórias. Durante a fase de testes em laboratório, detectou-se que o microcontrolador funcionou corretamente com todos os periféricos. Porém, quando os dados foram enviados para USB, mesmo não sendo utilizados, provocaram uma pane geral no chip. O caso descrito pode ser caracterizar como

A
Electromigration.

B
Cross-talking.

C
Hold Violation.

D
Setup Violation.

E
Antenna Violation.
 
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