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A difração de raios-X é uma técnica de análise cristalográfica de materiais que consiste em projetar um feixe de raios-X de comprimento de onda por volta de um angstrom através de uma amostra e analisar o padrão de difração resultante. Considerando essa breve descrição da técnica, assinale a alternativa incorreta.
A distância entre os planos cristalinos do material definirá a difração que os raios-X sofrem, possibilitando descobrir o padrão e a orientação dos cristais do material.
Materiais amorfos, isto é, sem estrutura cristalina, não são bem analisados por essa técnica.
O posicionamento da amostra em relação à fonte de raios-X altera o resultado da difração entre os planos cristalinos.
Essa técnica também pode ser utilizada em amostras liquidas.