Questões de Concurso sobre Ciências dos Materiais

 
 
Disciplina 1
Assunto 3
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Quanto às propriedades magnéticas da matéria, os materiais se classificam em ferromagnéticos, paramagnéticos e diamagnéticos. O material dito paramagnético é aquele que apresenta uma permeabilidade magnética

A
nula

B
cerca de mil vezes inferior à do vácuo

C
ligeiramente menor do que a do vácuo

D
pouco maior do que a do vácuo

E
de cem a mil vezes maior do que a do vácuo
A implantação de íons na tecnologia de fabricação de MOSFETs é utilizada, principalmente, para obtenção de

A
junções rasas de fonte e de dreno e para ajuste da tensão de limiar de condução de transistores MOSFETs.

B
junções profundas de fonte e de dreno e para ajuste da corrente de condução de transistores MOSFETs.

C
junções rasas de fonte e de dreno e para ajuste da corrente de condução de transistores MOSFETs.

D
junções profundas de fonte e de dreno e para ajuste da tensão de limiar de condução de transistores MOSFETs.

E
junções rasas e profundas de fonte e de dreno e para ajustar o comprimento de transistores MOSFETs.
Quais as principais vantagens de plasmas de alta densidade tipo ICP (acoplamento indutivo) em comparação com plasmas com acoplamento capacitivo, para processos de corrosão?

A
Maior aquecimento de amostras durante a corrosão.

B
Controle independente de densidade do plasma e da autopolarização (self-bias).

C
Taxas de corrosão mais altas.

D
Danos em materiais menores.

E
Pressão de gás menor.
Em três lâminas de Si iguais foram implantados os ions de 11B+, na primeira, 31P+, na segunda e 75As+, na terceira. Qual implantação de íons destruirá mais a rede cristalina em sua respectiva lâmina de Si. Nota: todas as implantações foram executadas com a mesma energia e dose, e em temperatura ambiente.

A
As três implantações destruirão por igual a rede cristalina do Si.

B
A implantação de íons de 31P+

C
A implantação de íons de 11B+

D
A implantação de íons de 75As+

E
As implantações de 75As+ e 11B+ destruirão por igual a rede cristalina do Si, e a de 31P+ destruirá mais.
Considere as afirmativas abaixo.

I – Para uma mesma concentração de dopante, o polissilício apresenta resistividade maior que o silício epitaxial.

II – Em um polissilício dopado, os dopantes tendem a se difundir para o interior do grão, quando o silício dopado é aquecido.

III – Os portadores se difundem rapidamente pelo contorno de grão.

Assinale a alternativa com a(s) afirmativa(s) correta(s).

A
Apenas I está correta.

B
Apenas II está correta.

C
Apenas III está correta.

D
Apenas II e III estão corretas.

E
Apenas I e III estão corretas.
Com relação às aplicações do dióxido de silício, assinale a alternativa INCORRETA.

A
Dielétrico de porta em estrutura metal-óxido-substrato (MOS).

B
Camada de isolação entre camadas de silício/polissilício e metais.

C
Agente catalizador da difusão para dopagem.

D
Máscara em processos de corrosão.

E
Camada de passivação e proteção.
No processo de implantações de íons, qual deve ser a dose da implantação de íons para se obter em junções rasas (com profundidade menor que 10 nm e concentração de dopantes em torno de 1020 cm-3) em lâmina de Si?

A
Em torno de 1010 cm-2

B
Em torno de 1011 cm-2

C
Em torno de 1012 cm-2

D
Em torno de ou maior que 1014 cm-2

E
Entre 1012 cm-2 e 1013 cm-2
O tipo de reator de deposição química melhorada por plasma (PECVD) utilizado para obter um processamento de substratos com diâmetros maiores que 200 mm

A
é impossível ter substratos com diâmetros maiores que 200 mm.

B
é o de tubo horizontal.

C
é o de placas paralelas.

D
é o de substrato único.

E
é o de tubo vertical.
Pode-se afirmar que o SALICIDE é o emprego de

A
silicetos na estrutura desalinhada.

B
silicetos na estrutura auto-alinhada.

C
silicetos na estrutura.

D
tungstênio na estrutura auto-alinhada.

E
tungstênio na estrutura desalinhada.
Qual a definição da energia de band gap de materiais semicondutores ou isolantes?

A
É a variação de energia entre o limite máximo da banda de condução e o limite máximo da banda de valência.

B
É a energia da banda de condução.

C
É a variação de energia entre o limite mínimo da banda de condução e o limite mínimo da banda de valência.

D
É a variação de energia entre o limite mínimo da banda de condução e o limite máximo da banda de valência.

E
É a variação de energia entre o limite máximo da banda de condução e o limite mínimo da banda de valência.
Em três lâminas de Si iguais foram implantados os íons de 11B+, na primeira, 31P+, na segunda e 75As+, na terceira. Qual íon penetrará mais em sua respectiva lâmina de Si, ou seja, apresentará a maior profundidade no Si? Nota: todas as implantações foram executadas com as mesmas condições de energia, dose e ângulos de inclinação e rotação.

A
75As+,

B
31P+

C
11B+

D
Os três íons penetrarão com a mesma profundidade no Si.

E
Os íons de 31P+ e 11B+ penetrarão com a mesma profundidade no Si.

Havendo um relé com configuração de contato do tipo NF conectado a um circuito elétrico, esse circuito permanecerá fechado enquanto o relé não for energizado por corrente. Após a energização, a conexão física entre o contato fixo e o móvel do relé se abrirá, interrompendo o fluxo de corrente no circuito.


C
Certo

E
Errado
Em um dispositivo semicondutor, o movimento dos portadores de carga por deriva deve-se

A
ao movimento aleatório resultante da agitação térmica no material semicondutor.

B
à tensão do substrato.

C
à aplicação de um campo elétrico no material semicondutor.

D
à dopagem do material semicondutor.

E
à corrente de base.

O cálculo da condutância elétrica de uma chapa de cobre com 1 m de comprimento, 4 cm de largura, 8 mm de espessura e resistividade igual a Imagem associada para resolução da questão cm apresentará resultado superior a 15 kS.


C
Certo

E
Errado
 
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